充電器漏電起痕試驗(yàn)儀

充電器漏電起痕試驗(yàn)儀

型號(hào)：Sun-LD

一 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)： 
IEC60112 ： 2003 /GB4207-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》， UL746A 、 ASTM D 3638-92 、 DIN 53480 等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的仿真試驗(yàn)項(xiàng)目。 

二產(chǎn)品特點(diǎn)：
充電器漏電起痕試驗(yàn)儀在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸 (2mm×5mm) 的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí) (30s) 定高度 (35mm) 滴下規(guī)定液滴體積的污染液體 (0.1%NH 4 CL) ，用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù) (CT1) 和耐電痕化指數(shù) (PT1) 。 

三 主要規(guī)格：

1.電極材料：試驗(yàn)電極 - 鉑，電極接桿 - 銀；
2..電極尺寸:(2mm±0.1mm)×(5mm±0.1mm)×(40mm±5mm) 鉑電極 12mm，30°±2° 斜面；
3..電極距離:4.0mm±0.01mm ，夾角 60°±5° ； 
4..電極壓力:1.00N±0.001N ；
5..試液電阻:A 液 0.1%NH 4 Cl ， 3.95±0.05Ωm ， B 液 1.98±0.05Ωm ；
6..液滴體積:20 滴 0.380g ～ 0.480g ， 50 滴 0.997g ～ 1.147g( 可微調(diào)節(jié) ) ； 
7..液滴高度:35mm±5mm( 可調(diào)節(jié) ) ；